本文標(biāo)題:偏光鏡中的正交鏡上非均質(zhì)晶體的檢測
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-10-8 15:42:32
偏光鏡中的正交鏡上非均質(zhì)晶體的檢測
對于我們在使用顯微鏡對非均質(zhì)晶體物質(zhì)的檢測分
析研究觀察，則主要是對非均質(zhì)切片與其它切片同
時進行顯微觀察。
這時我們在觀察這種晶體物質(zhì)時就需要使上或是下
偏光鏡的振動方向是相同的，這樣我們在下偏光鏡
中所透出的晶體振動方向則是一種平行偏光。
這樣就不會改變晶體的振動方向，而如果達到上偏
光鏡時，上偏光鏡就需要與晶體的振動方向相垂直
，這樣就不會透過晶體而使晶體表面出現(xiàn)消光現(xiàn)象。
由此我們可以知道晶體的消光現(xiàn)象，則是在正交鏡
下會現(xiàn)出全消光現(xiàn)象，而這種晶體就是均質(zhì)晶體，
也可能是非均質(zhì)晶體垂直于光軸的晶體切片表面上
。
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