本文標題:透射電子顯微鏡主要結(jié)構(gòu)和原理成像方式

透射電子顯微鏡主要結(jié)構(gòu)和原理成像方式

透射電子顯微鏡電子束穿過樣品顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于時會攜
帶有樣品的信息，透射電子顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于顯微鏡的成
像設(shè)備使用這些信息來成像。

透射電子顯微鏡投射透鏡將處于正確位置的顯微鏡進行觀察分析檢測測量研
究于電子波分布投射在觀察系統(tǒng)上顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究。

透射電子顯微鏡觀察到的顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于圖像強度，在
假定成像顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于設(shè)備質(zhì)量很高的情況下，近似
的顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于與顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究
于電子波函數(shù)的時間平均幅度成正比。

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